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  • 多功能方阻電阻率測試儀
    多功能方阻電阻率測試儀

    多功能方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.

    更新日期:2024-07-16型號:訪(fǎng)問(wèn)量:1954
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  • 工業(yè)方阻電阻率測試儀
    工業(yè)方阻電阻率測試儀

    工業(yè)方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.

    更新日期:2024-07-16型號:訪(fǎng)問(wèn)量:1736
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  • 方阻電阻率測試儀
    方阻電阻率測試儀

    方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.

    更新日期:2024-07-16型號:訪(fǎng)問(wèn)量:2158
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  • 四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀
    四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀

    四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及國標設計制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā?

    更新日期:2024-07-16型號:訪(fǎng)問(wèn)量:1542
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  • 四探針?lè )阶鑳x 方阻電阻率測試儀
    四探針?lè )阶鑳x 方阻電阻率測試儀

    四探針?lè )阶鑳x 方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.

    更新日期:2024-07-16型號:訪(fǎng)問(wèn)量:1921
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